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SEM.EDS,Mapping场发射扫描电镜SEM(山东委托测试)

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SEM.EDS,Mapping场发射扫描电镜SEM(山东委托测试)

  • 品 牌

    OPTON NTS LIMITED

    型 号

    MERLINCompact

  • 模 式

    • 选 项

    • 地 址

      北京北京

      • 价 格

        130

立即预约 咨询方式:田老师400-086-3999 转 810

服务承诺:交易担保快速测试结果分析

  • 详细介绍
仪器简介

服务简介

SEM二次电子可以看颗粒形貌,大小,分布。背散射可以看元素分布,相分布,夹杂。配备EDS可以做定性和定量成分测量。截面元素分布,点扫描,线扫描,面扫描。


仪器参数
  • 二次电子分辨率:0.8nm(15KV),1.6nm(1KV);

  • 背散射电子分辨率:2.0nm(15KV);

  • 放大倍数:12X~200,000X;

  • 可分析元素:5(B)-92(U);5(B)-11(Na)定性分析,定量存在误差;

  • 加载配件:牛津能谱仪(EDS)、背散射电子衍射分析仪(EBSD)。


检测项目

1.形貌分析,通过形貌像可以对样品的形貌、粒径、分散性进行表征,可用于金属材料、薄膜材料、半导体材料、陶瓷材料、生物组织形貌像的观 察,同时还可对材料断口和失效进行分析

2.微区成分分析,通过对样品微区、亚微区成分进行分析定性、定量分析,可确定样品的组成


样品要求

1)SEM、EDS块状样品:标准样品尺寸长宽不超过10mm,高不超过150mm;最大可放样品尺寸长宽不超过45mm,高不超过150mm;

2)EBSD块状样品:样品尺寸长宽高不超过10mm;

3)粉末最少50mg;

4)薄膜最少200mm*200mm。


结果示例

SEM效果图.png

SEM常见问题解答

问:不导电或导电差的样品,为什么要喷金?

答:SEM成像,是通过detecter获得二次电子和背散射电子的信号。如样品不导电或导电性不好,会造成样品表面多余电子或游离粒子的累积不能及时导走,一定程度后就反复出现充电放电现象(charging),最终影响电子信号的传递,造成图像扭曲,变形、晃动等现象,喷金后样品表面导电增强,从而避免积电现象。

问:喷金后,对样品形貌是否有影响?

答:样品表面喷金后,只是在其表面覆盖了几个到十几个金原子层,厚度只有几个纳米到十几个纳米而已,对于看形貌来说,几乎是没有什么影响的。

问:一个样品会提供几张图片?

答:每样品提供6-8张左右,具体根据样品的拍摄情况而定。


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下单须知

SEM.EDS,Mapping场发射扫描电镜SEM(山东委托测试)

1)SEM、EDS块状样品:标准样品尺寸长宽不超过10mm,高不超过150mm;最大可放样品尺寸长宽不超过45mm,高不超过150mm;
2)EBSD块状样品:样品尺寸长宽高不超过10mm;
3)粉末最少50mg;
4)薄膜最少200mm*200mm。
5)填写委托测试单明确拍照要求。

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