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X射线衍射仪

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X射线衍射仪

  • 品 牌

    德国Bruker公司

    型 号

    Bruker D8 Advance

  • 模 式

    • 选 项

    • 地 址

      陕西西安

      • 价 格

        60

立即预约 咨询方式：400-086-3999 转 810

服务承诺：交易担保快速测试结果分析

  • 详细介绍
仪器简介

X射线衍射仪（XRD），是分析材料衍射图谱，获得材料的成分、材料内部原子或分子的结构或形态等信息的研究手段。可实现物相定性分析、结晶度及非晶相含量分析、结构精修及解析、物相定量分析、点阵参数精确测量、无标样定量分析、微观应变分析、晶粒尺寸分析、原位分析、残余应力、低角度介孔材料测量、织构及ODF分析、薄膜掠入射、薄膜反射率测量、小角散射等。


仪器参数

高精度的测角仪可以保证在全谱范围内的每一个衍射峰的测量峰位和标准峰位的误差不超过0.01度，林克斯阵列探测器可以提高强度150倍，大幅提高了设备的探测灵敏度。通过TWIN-TWIN光路设计，实现了BB聚焦几何下的定性定量分析和平行光几何下的薄膜掠入射GID分析、薄膜反射率XRR分析的全自动切换。通过TWIST TUBE技术，可1分钟内完成从线光源应用（常规粉末的定性定量分析、薄膜的GID、XRR）到点光源应用（织构、应力、微区）的切换。

Theta/theta 立式测角仪 

2Theta角度范围：-110~168°

角度精度：0.0001度

Cu靶，标准尺寸光管

探测器：林克斯XE阵列探测器




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