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XPS测试X射线光电子能谱仪

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XPS测试X射线光电子能谱仪

  • 品 牌

    ThermoFischer

    型 号

    ESCALAB 250Xi

  • 模 式

    • 选 项

    • 地 址

      陕西西安

      • 价 格

        190

立即预约

服务承诺:交易担保快速测试结果分析

  • 详细介绍
仪器简介

X-射线光电子能谱仪,是一种表面分析技术,主要用来表征材料表面元素及其化学状态。其基本原理是使用X-射线,如Al Ka =1486.6eV,与样品表面相互作用,利用光电效应,激发样品表面发射光电子,利用能量分析器,测量光电子动能(K.E),根据B.E=hv-K.E-W.F,进而得到激发电子的结合能(B.E)。

仪器参数

1 极限能量分辨率为0.43eV;

2 分析室真空度优于5×10-10 mbar;

3 能量分析范围为0-5000eV;

4 通过能范围为1-400eV;

5 固体样品的表面成分分析、化学态分析,取样深度一般约为1-10nm,其中金属材料为0.5-3nm,无机材料2-4nm,有机高聚物5-10nm。

检测项目

为有机化合物结构分析提供信息,配合进行化合物定性定量分析,广泛应用于有机化合物、农药、及生物大分子结构与性能研究。主要应用于有机化合物的结构分析;化工产品分析;工业助剂分析;有机成份分析等。

样品要求

1.粉末测试需要量一般不小于0.2 毫升或者10毫克,样品需干燥;

2.固体样品尺寸块状5*5mm,厚度尽量低于4mm,表面须平整,样品需干燥;

3.液体样须滴在铝箔或者硅片等载体上烘干形成液膜,一般重复3-5次烘干滴液差不多即可测不到基底;

4.材料必须是无放射性、无毒性、无挥发性物质(如单质Na, K, S, P, Zn, Se, As, I, Te, Hg等);

5.磁性样品(可以测试)请送样时告知;

6. 元素窄谱如果有特殊要求请备注,如果没有特殊说明,默认测试最强峰,如果最强峰和其他元素的峰有重叠,默认测试次强峰。

7. 小于1%的元素可能测不出明显信号;

8. 其他问题和特殊测试要求可在线沟通。

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