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场发射透射电子显微镜(TEM)

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场发射透射电子显微镜(TEM)

  • 品 牌

    FEI

    型 号

    Tecnai F30 G2

  • 模 式

    • 选 项

    • 地 址

      陕西西安

      • 价 格

        780

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服务承诺:交易担保快速测试结果分析

  • 详细介绍
仪器简介

金属、矿物、半导体、高分子、陶瓷、复合材料、纳米等材料微观组织形貌、结构以及分析

仪器参数

加速电压:300kV;点分辨率:0.2nm, 线分辨率:0.1nm, 信息分辨率0.14nm

检测项目

金属、矿物、半导体、高分子、陶瓷、复合材料、纳米等材料微观组织形貌、结构以及分析

样品要求

帖钴镍等弱磁性,强磁性样品提前说明情况!


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