

- 详细介绍

仪器简介
主要用于多晶材料物相分析
仪器参数
充Xe正比探测器:最大计数率,1,000,000cps;半导体阵列探测器:最大计数率,>4,000,000cps;角度重现性,+/-0.0001度。
检测项目
主要用于多晶材料物相分析
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