

- 详细介绍

仪器简介
服务简介:
1)反映样品组织形态的形貌,可获得各种材料的原始形貌, 进行尺度表征及分布表征
2)微区元素定性、定量及半定量的分析(EDX)
3)材料的物质内部显微结构电子衍射分析(SAED)
应用范围:
广泛应用于生物学、医学、化学、物理学、地质学;金属、半导体材料、高分子材料、陶瓷、纳米材料等领域
仪器参数
仪器参数:
1)最大放大: 80万倍 (800,000×)
2)点分辨率: 0.24 nm
3)加速电压: 200KV
4)最小束斑尺寸:0.5nm
5)样品台: 普通单、双倾台,铍双倾台
6)最大倾转角:±40°
7)X射线能谱仪元素分析范围:B5~U92
8)X射线能谱仪能量分辨率: 130 Ev
检测项目
测试项目:
TEM、HRTEM、点扫、线扫、面扫、暗场像、衍射、量子点、EELS、特定带轴。