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高分辨透射电子显微镜TEM

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高分辨透射电子显微镜TEM

  • 品 牌

    美国FEI公司

    型 号

    Tecnai G2 F20

  • 模 式

    • 选 项

    • 地 址

      陕西西安

      • 价 格

        250

立即预约

服务承诺:交易担保快速测试结果分析

  • 详细介绍
仪器简介

服务简介:

1)反映样品组织形态的形貌,可获得各种材料的原始形貌, 进行尺度表征及分布表征

2)微区元素定性、定量及半定量的分析(EDX)

3)材料的物质内部显微结构电子衍射分析(SAED)



应用范围:

广泛应用于生物学、医学、化学、物理学、地质学;金属、半导体材料、高分子材料、陶瓷、纳米材料等领域


仪器参数

仪器参数:

1)最大放大: 80万倍 (800,000×)

2)点分辨率: 0.24 nm

3)加速电压: 200KV

4)最小束斑尺寸:0.5nm

5)样品台: 普通单、双倾台,铍双倾台

6)最大倾转角:±40°

7)X射线能谱仪元素分析范围:B5~U92

8)X射线能谱仪能量分辨率: 130 Ev


检测项目

测试项目:

TEM、HRTEM、点扫、线扫、面扫、暗场像、衍射、量子点、EELS、特定带轴。


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