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 场发射透射电子显微镜

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场发射透射电子显微镜

固体物质微结构观察与分析;晶体结构及晶体缺陷分析;新材料制备方法、性能与结构关系的研究。

  • 品 牌

    日本JEOL公司(透射电子显微镜)、英国牛津公司(能谱仪)

    型 号

    JEM-2100F(透射电子显微镜)、X-MaxN 80T IE250(能谱仪)

  • 模 式

    • 选 项

    • 地 址

      北京北京

      • 价 格

        220

立即预约 咨询方式:田老师400-086-3999 转 810

服务承诺:交易担保快速测试结果分析

  • 详细介绍
仪器简介

JEM-2100F透射电子显微镜系日本电子株式会社(JEOL)产品。该电镜的加速电压为200kV,具有透射(TEM)、会聚束衍射(CBED)以及纳米束衍射(NBD)等工作模式,并且可与能谱仪联机,进行样品成分分析。其点分辨率和线分辨率分别为0.19nm0.1nmSTEM分辨率为0.20nm; 放大倍数达150。利用其不仅可以获得样品的高分辨率电子显微像,而且还可对样品微区作纳米尺度的结构与成分分析。因而JEM-2100F广泛应用于材料科学、生命科学、半导体、纳米技术等领域。

 1)反映样品组织形态的形貌,可获得各种材料的原始形貌, 进行尺度表征及分布表征

2)微区元素定性、定量及半定量的分析(EDX)

3)材料的物质内部显微结构电子衍射分析(SAED)



仪器参数

主要配置及技术参数:

1、加速电压:200 kV;

2、点分辨率:0.19 nm;

3、线(晶格)分辨率:0.1 nm;

4、倾斜角:± 25 °


检测项目

TEM、HRTEM、点扫、线扫、面扫、暗场像、衍射

样品要求

1、JEM-2100F透射电镜只接收材料类样品;

2、样品不得具有放射性、毒性和腐蚀性;

3、样品须经充分干燥并具有一定的稳定性,须确保当受到电子束照射时不产生挥发性、腐蚀性物质;

4、须提供样品的名称、分子结构和晶体结构等信息;

5、送样者需明确测试目的,即期望获得什么信息。


结果示例

SEM效果图.png

常见问题及回答

问:不导电或导电差的样品,为什么要喷金?

答:SEM成像,是通过detecter获得二次电子和背散射电子的信号。如样品不导电或导电性不好,会造成样品表面多余电子或游离粒子的累积不能及时导走,一定程度后就反复出现充电放电现象(charging),最终影响电子信号的传递,造成图像扭曲,变形、晃动等现象,喷金后样品表面导电增强,从而避免积电现象。

问:喷金后,对样品形貌是否有影响?

答:样品表面喷金后,只是在其表面覆盖了几个到十几个金原子层,厚度只有几个纳米到十几个纳米而已,对于看形貌来说,几乎是没有什么影响的。

问:一个样品会提供几张图片?

答:每样品提供6-8张左右,具体根据样品的拍摄情况而定。






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下单须知

场发射透射电子显微镜

一、材料类样品:

1.粉末样品送样基本要求

(1)单颗粒粉末尺寸最好小于1 μm;(2)以无机成分为主,否则会严重污染电镜,可能导致高压跳掉,甚至损坏高压枪。

2.块状样品送样基本要求

(1)需要电解减薄或离子减薄,获得几十纳米的薄区才能观察;(2)如果晶粒尺寸小于1 μm,也可用破碎等机械方法制成粉末来观察;

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