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高温高分辨X射线衍射(XRD)

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高温高分辨X射线衍射(XRD)

  • 品 牌

    荷兰PANalytical帕纳科

    型 号

    EKYS-298

  • 模 式

    • 选 项

    • 地 址

      北京北京

      • 价 格

        500

立即预约 咨询方式:田老师400-086-3999 转 810

服务承诺:交易担保快速测试结果分析

  • 详细介绍
仪器简介

仪器简要:帕纳科锐影(Empyrean)X射线衍射仪采用了先进的PIXcel3D矩阵探测器,配备有平板样品台、旋转透射样品台及三轴样品台以及多种功能的附件,可对粉末、薄膜、纳米材料及块状样品进行多种方式的测试。

仪器参数

 1) 变温XRD(1600℃)、线扫、摇摆 扫描等、掠入射反射xrr、二维倒异空间图RSM     2) 最大管压:60kV;最大管流:60mA,     3) 2q角度范围:-110度到162度     4) 角度重现性:+/- 0.0001 度     5) 最小可控步长:0.0001 度,     6) 探测器计数矩阵:256x256 pixcel     7) 像素大小:55mmx55mm     8) 分辨率:FWHM=0.028°

检测项目

 1) 物相定性和定量分析、晶型鉴别、结晶度测定以及晶胞参数精确测定     2) 微小区域的物相鉴定以及实现二维(2D)衍射功能,得到直接可视化的德拜环     3) 试样处于室温至1600℃状态下的结构分析。

样品要求

 粉末 薄膜 块材、厚度在10~100nm之间(xrr)、薄膜

结果示例

广泛应用于材料、地矿、化工、冶金、机械、制药等

高温高分辨X射线衍射(XRD)

 1) 变温XRD(1600℃)、线扫、摇摆 扫描等、掠入射反射xrr、二维倒异空间图RSM     2) 最大管压:60kV;最大管流:60mA,     3) 2q角度范围:-110度到162度     4) 角度重现性:+/- 0.0001 度     5) 最小可控步长:0.0001 度,     6) 探测器计数矩阵:256x256 pixcel     7) 像素大小:55mmx55mm     8) 分辨率:FWHM=0.028°

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粉末 薄膜 块材、厚度在10~100nm之间(xrr)、薄膜

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