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场发射透射电子显微镜(TEM)

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场发射透射电子显微镜(TEM)

  • 品 牌

    Tecnai

    型 号

    F20

  • 模 式

立即预约

服务承诺:交易担保快速测试结果分析

  • 详细介绍
仪器简介

场发射透射电子显微镜(TEM)服务简介:

可对能源材料、催化剂、岩石矿物、金属材料、 高分子材料、陶瓷、生物材料及纳米材料等进行检测


仪器参数

场发射透射电子显微镜(TEM)技术参数
点分辨率:0.24nm;

信息分辨率:0.14nm
放大倍数:25~1030K× 
最高加速电压:200KV
样品最大倾角:±40° 
能谱仪:元素5B~92U
场发射透射电子显微镜(TEM)附件配置 
X射线能谱分析仪,高角环形暗场探头(HAADF) 

检测项目

场发射透射电子显微镜(TEM)应用:

场发射扫描电子显微镜,广泛用于生物学、医学、金属材料、高分子材料、化工原料、地质矿物、商品检验、产品生产质量控制、宝石鉴定、考古和文物鉴定及公安刑侦物证分析。可以观察和检测非均相有机材料、无机材料及在上述微米、纳米级样品的表面特征。该仪器的最大特点是具备超高分辨扫描图像观察能力,尤其是采用最新数字化图像处理技术,提供高倍数、高分辨扫描图像,并能即时打印或存盘输出,是纳米材料粒径测试和形貌观察最有效仪器。也是研究材料结构与性能关系所不可缺少的重要工具。

样品要求

场发射透射电子显微镜(TEM)样品要求:

样品尺寸:透射电镜能够观察200nm以下的样品;块体样品,要求样品大小为直径3mm的圆,厚度为200nm以下;高分辨样品要求厚度在10nm以下;

样品状态:对于粉末和液体样品,要求样品均匀分散在支持膜上并且干燥;


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