- 详细介绍

仪器简介
仪器型号
JEM-2100
生产厂家
JEOL
厂家国别
日本
测试条目
微观形貌;高分辨;选区衍射;能谱(只能做点扫,不能做线扫、Mapping)
技术指标
加速电压:200KV;电子枪光源:LaB6(六硼化镧)灯丝;点分辨率:0.23nm;线分辨率:0.14nm;最小束斑尺寸:TEM 20nm以下;放大倍数(高倍):×2000-×1,500,000;放大倍数(低倍):×50-×6,000;倾斜角度:±35°(X)/±30°(Y)
应用领域
电子显微学、材料科学、纳米科技、信息、化学、凝聚态物理、化工、环境等领域