- 详细介绍
仪器简介
仪器型号
JEM-2100
生产厂家
JEOL
厂家国别
日本
测试条目
微观形貌；高分辨；选区衍射；能谱（只能做点扫，不能做线扫、Mapping）
技术指标
加速电压：200KV；电子枪光源：LaB6（六硼化镧）灯丝；点分辨率：0.23nm；线分辨率：0.14nm；最小束斑尺寸：TEM 20nm以下；放大倍数（高倍）：×2000-×1,500,000；放大倍数（低倍）：×50-×6,000；倾斜角度：±35°(X)/±30°(Y)
应用领域
电子显微学、材料科学、纳米科技、信息、化学、凝聚态物理、化工、环境等领域
