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透射电子显微镜(TEM)

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透射电子显微镜(TEM)

  • 品 牌

    日本高科

    型 号

    HT7700

  • 模 式

立即预约

服务承诺:交易担保快速测试结果分析

  • 详细介绍
仪器简介

透射电子显微镜(TEM)仪器简介:

由于受电镜高压限制,透射电子束一般只能穿透厚度为几十纳米以下的薄层样品。

除微细粒状样品可以通过介质分散法并直接滴样外,其它样品的制备方法主要有物理减薄(离子和双喷减薄等)和超薄切片法。

一般情况下,需要采用物理减薄法的样品制备过程。超薄切片样品的制备,需经样品前处理、包埋、切片等复杂工序。   





仪器参数

透射电子显微镜(TEM)仪器参数:

最高加速电压为120 KV,具有高分辨及高衬度两种观察模式;

分辨率:100 KV,Au晶格像,0.24 nm;

最高放大倍数:60万倍;

本台透射电镜利用荧光屏CCD进行样品观察,无需暗室,改善了观察时的工作环境;配有能谱仪:EDAX,可以实现Be-U范围的元素点分析。

检测项目

透射电子显微镜(TEM)的应用:

透射电子显微镜利用高速透射电子成像,可以实现纳米材料形貌、结构及微区成分的表征,是纳米研究中基本的研究手段之一。广泛的应用于各种无机纳米材料,高分子纳米材料以及生物材料的研究。

样品要求

透射电子显微镜(TEM)样品要求:

由于受电镜高压限制,透射电子束一般只能穿透厚度为几十纳米以下的薄层样品。

除微细粒状样品可以通过介质分散法并直接滴样外,其它样品的制备方法主要有物理减薄(离子和双喷减薄等)和超薄切片法。

一般情况下,需要采用物理减薄法的样品制备过程。超薄切片样品的制备,需经样品前处理、包埋、切片等复杂工序。 


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