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场发射扫描电子显微镜(SEM)

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场发射扫描电子显微镜(SEM)

现场实验,可测磁性,能谱分析EDS

  • 品 牌

    日立高科

    型 号

    Hitachi SU-8010

  • 模 式

立即预约

服务承诺:交易担保快速测试结果分析

  • 详细介绍
仪器简介

场发射扫描电子显微镜具有超高分辨率,能做各种固态样品表面形貌的二次电子像、反射电子象观察及图像处理。场发射扫描电子显微镜利用二次电子成像原理,在镀膜或不镀膜的基础上,低电压下通过在纳米尺度上观察生物样品如组织、细胞、微生物以及生物大分子等,获得忠实原貌的立体感极强的样品表面超微形貌结构信息。 场发射扫描电子显微镜具有高性能x射线能谱仪,能同时进行样品表层的微区点线面元素的定性、半定量及定量分析,具有形貌、化学组分综合分析能力。


仪器参数

场发射扫描电子显微镜仪器参数或性能: 

加速电压:200v-30kV 

分辨率: 1.3 nm/1.0kV, 1.0nm/15 kV;

放大倍率: 80-2,000,000 

能谱成分检测范围:Be(4)-U(92)

检测项目

场发射扫描电子显微镜,广泛用于生物学、医学、金属材料、高分子材料、化工原料、地质矿物、商品检验、产品生产质量控制、宝石鉴定、考古和文物鉴定及公安刑侦物证分析。可以观察和检测非均相有机材料、无机材料及在上述微米、纳米级样品的表面特征。该仪器的最大特点是具备超高分辨扫描图像观察能力,尤其是采用最新数字化图像处理技术,提供高倍数、高分辨扫描图像,并能即时打印或存盘输出,是纳米材料粒径测试和形貌观察最有效仪器。也是研究材料结构与性能关系所不可缺少的重要工具。

样品要求

场发射扫描电子显微镜对样品要求:

1.粉末、液体、薄膜、块体均可。

2.尺寸要求:块体样品<2x2x1cm

3.磁性样品和非磁性样品均可进行测试。


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