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透射电子显微镜(TEM)

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透射电子显微镜(TEM)

高分辨透射电镜,TEM

  • 品 牌

    日本电子

    型 号

    JEM2100

  • 模 式

立即预约

服务承诺:交易担保快速测试结果分析

  • 详细介绍
仪器简介

200kV的透射电子显微镜JEM-2100通用型电子显微镜,由PC一体化管理各种功能,性价比高,能支持生物、生物到材料等所有领域的研究和开发。

  • 透射电子显微镜配有高性价比的LaB6电子枪。

  • 实现了0.19 nm的高分辨率 (使用URP极靴 )。

  • 实现了STEM(扫描透射图像观察装置)、EDS(能谱仪)与主机控制PC的一体化控制。

  • EDS 的固体角达到0.28 sr (使用HRP极靴和50 mm2检测器),可以进行高灵敏度、高分辨率的分析。

  • 采用新设计的测角台,可以进行长时间、稳定的观察和分析。

仪器参数

透射电子显微镜的仪器参数:

灯丝:六硼化镧;

加速电压:200kv;

点分辨率:0.19nm;

样品倾斜角:X轴±25°、Y轴±25°

检测项目

透射电子显微镜适用于:衍衬像,高分辨像,选区电子衍射,EDS成分分析

样品要求

透射电子显微镜对样品要求:

直径3mm的经过减薄的薄膜样品、微珊样品、FIB样品、截面样品、超薄切片样品等。

下述样品需要主管工程师鉴定:磁性样品、Cu环粘的样品、切片样品、微珊捞的膜状样品、其它特殊样品等。


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